場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FESEM）是一種電子顯微鏡，具有超高分辨率，可以用于觀(guān)察各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象，還可以進(jìn)行圖像處理。
FESEM具有以下優(yōu)勢：
1、表面形貌觀(guān)察：FESEM可以提供高分辨率的表面形貌觀(guān)察，使科學(xué)家能夠詳細地研究材料的表面結構和形貌，包括材料的顆粒大小、形狀、表面缺陷等。這對于研究材料的性能、制備工藝和下游應用等都非常有幫助。
2、成分分析：FESEM的二次電子成像原理不僅可以提供高分辨率的表面形貌圖像，還可以提供元素分布信息。這使得科學(xué)家能夠對材料的成分進(jìn)行分析，進(jìn)而研究材料中不同元素之間的相互作用和分布。
3、微觀(guān)結構分析：FESEM可以提供高分辨率的圖像，使科學(xué)家能夠觀(guān)察材料的微觀(guān)結構，包括材料的晶體結構、相組成、織構等。這對于材料性能的研究以及新型材料的設計和開(kāi)發(fā)都非常有幫助。
4、快速實(shí)時(shí)成像：FESEM可以快速地對材料表面進(jìn)行掃描和成像，而且可以實(shí)時(shí)地觀(guān)察材料的制備或加工過(guò)程。這使得科學(xué)家能夠快速地評估材料的性能和工藝參數，進(jìn)而優(yōu)化材料的制備或加工工藝。
5、與其他技術(shù)結合使用：FESEM可以與其他技術(shù)結合使用，如X射線(xiàn)衍射、能譜儀等。這使得科學(xué)家能夠對材料進(jìn)行更全面的分析，從而獲得更深入的認識和理解。
FESEM可應用于金屬及合金、斷口、焊點(diǎn)、拋光斷面、磁性及超導材料、陶瓷、復合材料、塑料、薄膜/涂層、地質(zhì)樣品斷面、礦物、軟材料等多個(gè)領(lǐng)域。
