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- XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀
XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀采用了Ｘ射線(xiàn)毛細導管技術(shù)，利用該技術(shù)，即使在非常小的樣品區域也能產(chǎn)生很高的熒光強度。Ｘ射線(xiàn)毛細導管將Ｘ射線(xiàn)源的大部分射線(xiàn)收集，并將其聚焦成直徑35微米的一個(gè)Ｘ射線(xiàn)點(diǎn)。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2422
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- 精密刻蝕鍍膜系統PECS II 685
精密刻蝕鍍膜系統PECS II 685，一款桌面型寬束氬離子拋光及鍍膜設備。對于同一個(gè)樣品，可在同一真空環(huán)境下完成拋光及鍍膜。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：3007
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統
ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統，是一款*的產(chǎn)品。它具有高效的光學(xué)采集和色散能力，采用陣列光電倍增管得到高增益光探測能力。通過(guò)DigitalMicrograph軟件實(shí)時(shí)地將光子脈沖信號混合成實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光圖像。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2535
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- Gatan原位加熱臺Murano 525
Gatan原位加熱臺Murano 525,精悍緊湊，能方便地與大多數掃描電鏡的標準樣品臺接口，它包含一個(gè)絕熱接口，適用于二次電子像、電子背散射衍射（EBSD）與聚焦離子束（FIB）加工。能夠對大至9mm x 4.5mm x 1.5mm大小的樣品進(jìn)行快速加熱。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2846
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺
MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺，可以對金屬樣品施加高達2000N的拉力，用戶(hù)EBSD分析，或者對一些其他材料進(jìn)行常規的應力-應變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜，為EBSD分析提供了的設置。
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2144
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
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- MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺
MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗臺,金屬及鍍層：用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及松弛機理、晶粒旋轉及織構變化。復合材料：用于研究材料韌性及強度;纖維：研究材料強度
- 訪(fǎng)問(wèn)量：2397
- 更新日期：2023-03-20 ￥面議
