賽默飛電子顯微鏡引入全新的能譜分析概念，采用*方法進(jìn)行樣品成分信息的采集、處理和展示。傳統能譜會(huì )利用二次電子或背散射電子信息，卻不利用其圖像進(jìn)行數據處理，因而數據獲取速度較慢，而且圖像分辨率相對粗糙。相比而言，賽默飛顯微鏡采集數據所用的是同一掃描發(fā)生器，將掃描電鏡圖像與能譜圖像對中，因而圖像更加銳利，圖像噪音更少。此外，脈沖處理采用自適應脈沖整形技術(shù)，確保各種條件下均能獲得可靠數據。元素分布圖通過(guò)定量算法形成，因此，所顯示的成分數據可靠，且結果中不會(huì )出現重疊峰誤判等。專(zhuān)有的陰影檢測算法幫助確保信息來(lái)自于檢測到X射線(xiàn)的區域。
賽默飛電子顯微鏡啟用方便、快速，它依托先進(jìn)鏡筒技術(shù)，保持系統始終處于最佳狀態(tài)，可聚焦樣品采集數據，隨時(shí)提供高質(zhì)量圖像。系統同時(shí)集成了創(chuàng )新性的交互式用戶(hù)指南，幫助用戶(hù)充分利用系統的各項高級功能。能譜集成在用戶(hù)界面中，可輕松完成成分分析，從而大程度提高工作效率。集成*的實(shí)時(shí)定量能譜面分析功能，專(zhuān)為快速分析而設計，操作簡(jiǎn)單，新手用戶(hù)也可輕松操縱。
賽默飛電子顯微鏡采用全開(kāi)門(mén)式設計，系統耐用性和靈活性更高，可以加載大而重(重達10 kg)的樣品，從而節省樣品制備時(shí)間。顯微鏡各方面性能表現出色，可表征各種不同類(lèi)型材料，提供信息。低真空模式下壓力可達150 Pa，能夠分析廣泛類(lèi)型的樣品。在分析不導電樣品方面，低真空模式不僅可以消除荷電效應，還可以增強材料襯度，并支持采用較大束流進(jìn)行成分分析。
