環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀(guān)性貌觀(guān)察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀(guān)成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是有較高的放大倍數，萬(wàn)倍之間連續可調，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀(guān)察各種試樣凹凸不平表面的細微結構，試樣制備簡(jiǎn)單。它是當今十分有用的科學(xué)研究?jì)x器。
環(huán)境掃描電鏡的應用范圍：
1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀(guān)察與分析。
2、各種材料微區化學(xué)成分的定量檢測。
3、粉末、微粒、納米樣品形態(tài)觀(guān)察和粒度測定。
4、機械零件與工業(yè)產(chǎn)品的失效分析。
5、鍍層厚度、成分與質(zhì)量評定。
6、刑偵案件物證分析與鑒定。
7、新材料性質(zhì)的測定和評價(jià)。
8、在生物、醫學(xué)和農業(yè)等領(lǐng)域也有廣泛的應用。
環(huán)境掃描電鏡在材料領(lǐng)域的具體應用：
1、材料表面形貌的觀(guān)察：通過(guò)掃描電子顯微鏡我們可以觀(guān)察材料的表面形貌。
2、斷口形貌的觀(guān)察：通過(guò)掃描電鏡我們可以進(jìn)行材料的斷口形貌的觀(guān)察，借助掃描電鏡分析斷口的破壞特征、零件內部的結構及缺陷，從而判斷零件損壞的原因。
3、微區化學(xué)成分分析：在樣品的處理過(guò)程中，有時(shí)需要提供包括形貌、成分、晶體結構或位向在內的豐富資料，以便能夠更全面、客觀(guān)地進(jìn)行判斷分析。為此，相繼出現了掃描電鏡—電子探針多種分析功能的組合型儀器。掃描電鏡如配有X射線(xiàn)能譜(EDS)和X射線(xiàn)波譜成分分析等電子探針附件，可分析樣品微區的化學(xué)成分等信息。
