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XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀
- 訪(fǎng)問(wèn)量:2660
- 更新日期:2023-03-20
- 產(chǎn)品介紹:XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀采用了X射線(xiàn)毛細導管技術(shù),利用該技術(shù),即使在非常小的樣品區域也能產(chǎn)生很高的熒光強度。X射線(xiàn)毛細導管將X射線(xiàn)源的大部分射線(xiàn)收集,并將其聚焦成直徑35微米的一個(gè)X射線(xiàn)點(diǎn)。
- 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
產(chǎn)品介紹
品牌 | 其他品牌 | 行業(yè)專(zhuān)用類(lèi)型 | 通用 |
---|---|---|---|
價(jià)格區間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 臺式/落地式 |
應用領(lǐng)域 | 石油,地礦 |
XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀
XTrace是一款可搭配在任意一臺具有傾斜法蘭槽 SEM上的微焦點(diǎn)X射線(xiàn)源。利用該設備可使SEM具備完整意義上的微區 XRF光譜分析能力。對于中等元素至重元素范圍內的元素,其檢測限提高了 20-50倍。此外,因為X射線(xiàn)的信號激發(fā)深度深于電子束,利用該設備還可以檢測更深層次樣品的信息。
XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀采用了X射線(xiàn)毛細導管技術(shù),利用該技術(shù),即使在非常小的樣品區域也能產(chǎn)生很高的熒光強度。X射線(xiàn)毛細導管將X射線(xiàn)源的大部分射線(xiàn)收集,并將其聚焦成直徑35微米的一個(gè)X射線(xiàn)點(diǎn)。
利用QUANTAX EDS*系統的 XFlash®系列電制冷能譜探頭即可對所產(chǎn)生的X射線(xiàn)熒光光譜進(jìn)行采集。 XFlash®電制冷能譜探頭使整個(gè)系統具備了非常高的能量分辨率,同時(shí)兼具了強大的信號采集能力。比如,利用有效面積 30 mm²的探頭在分析金屬元素時(shí)的輸入計數率可達 40 kcps。
X射線(xiàn)毛細導管技術(shù)使熒光強度得到極大的增強,同時(shí),熒光光譜的背底較低,這些都提高了系統對痕量元素的敏感度。相較于電子束激發(fā)的信號,其檢測限可提高 20-50倍。而且,因為X射線(xiàn)源激發(fā)信號對于高原子序數元素更有效,所以高原子序數元素檢測限可提高至 10ppm。
QUANTAX能譜儀系統和微區熒光光譜儀系統可在同一用戶(hù)界面內結合使用,從而互相補強,實(shí)現定量分析結果的優(yōu)化。
用戶(hù)友好型設計
聚焦于分析任務(wù),而非繁瑣的系統設置
利用ESPRIT HyperMap進(jìn)行面分布分析的同時(shí)采集了所有的數據并存儲,便于后續的離線(xiàn)分析。
樣品可利用 EDS系統和 micro-XRF系統并行進(jìn)行分析,而無(wú)需任何的樣品移動(dòng)。
兩種分析方法無(wú)縫整合在同一分析軟件 ESPRIT中,切換分析方法只需輕點(diǎn)鼠標。
XTrace不會(huì )干擾任何 SEM及EDS操作。
僅需點(diǎn)滴投入,即可獲得獨立微區熒光光譜儀的強大功能
分析結果可與獨立系統媲美。
樣品傾斜后可對更大區域進(jìn)行面分布
提供三個(gè)初級濾片以壓制衍射峰
直接利用掃描電鏡樣品臺,無(wú)需其他的樣品臺裝置。
通過(guò)掃描電鏡樣品臺的旋轉輕松避免譜圖中衍射峰的出現。
可傾斜樣品以獲得小束斑直徑。